Caracterización de materiales aeronáuticos de alto apantallamiento mediante la adaptación de diferentes metodologías: estándar ASTM y cámara reverberante

dc.creator	Gómez, Patricia	es_ES
dc.date.accessioned	2019-05-30T11:23:36Z
dc.date.available	2019-05-30T11:23:36Z
dc.date.issued	2018
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/2454/33177
dc.description	Ponencia presentada a las IV Jornadas Españolas de EMC - Compatibilidad electromagnética. Organizadas por NAITEC y el Institute of Smart Cities de la Universidad Pública de Navarra. Pamplona, 19-21 de noviembre de 2018	es_ES
dc.format.mimetype	video/mp4	en
dc.language.iso	spa	en
dc.title	Caracterización de materiales aeronáuticos de alto apantallamiento mediante la adaptación de diferentes metodologías: estándar ASTM y cámara reverberante	es_ES
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	Contribución a congreso / Biltzarrerako ekarpena	es
dc.rights.accessRights	Acceso abierto / Sarbide irekia	es
dc.rights.accessRights	info:eu-repo/semantics/openAccess	en
dc.identifier.upnatv	https://upnatv.unavarra.es/upnatvscripts/EmbedCodeGen.php?file=sites/default/files/videos/pub/converted/21987_loading_Jornadas_EMC_david_poyatos.mp4