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Caracterización de materiales aeronáuticos de alto apantallamiento mediante la adaptación de diferentes metodologías: estándar ASTM y cámara reverberante

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dc.contributor.authorGómez, Patricia
dc.date.accessioned2019-05-30T11:23:36Z
dc.date.available2019-05-30T11:23:36Z
dc.date.issued2018
dc.descriptionPonencia presentada a las IV Jornadas Españolas de EMC - Compatibilidad electromagnética. Organizadas por NAITEC y el Institute of Smart Cities de la Universidad Pública de Navarra. Pamplona, 19-21 de noviembre de 2018es_ES
dc.format.mimetypevideo/mp4en
dc.identifier.upnatvhttps://upnatv.unavarra.es/upnatvscripts/EmbedCodeGen.php?file=sites/default/files/videos/pub/converted/21987_loading_Jornadas_EMC_david_poyatos.mp4
dc.identifier.urihttps://academica-e.unavarra.es/handle/2454/33177
dc.language.isospaen
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.titleCaracterización de materiales aeronáuticos de alto apantallamiento mediante la adaptación de diferentes metodologías: estándar ASTM y cámara reverberantees_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObject
dspace.entity.typePublication

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IV Jornadas Españolas de EMC – Compatibilidad Electromagnética