Aginaga Etxamendi, Concepción Isabel2021-10-282021https://academica-e.unavarra.es/handle/2454/40879El presente Trabajo Fin de Máster se centra en en el estudio de la detección de campo eléctrico mediante estructuras ópticas. Para ello, se ha analizado la posibilidad de utilizar distintos materiales capaces de conducir electricidad. A continuación, basándose en varios artículos publicados en el grupo de Sensores de la UPNA, se ha obtenido la estructura óptica sobre el cual se ha trabajado. Definida la estructura óptica que se basa en la interferometría SMS, mediante la técnica de deposición de sputter, se han depositado los distintos materiales conductivos. Después, se ha realizado un análisis del comportamiento de la estructura frente al campo eléctrico al depositar sobre ella distintos materiales. Se ha realizado una comparación de sus resultados en variación de potencia y longitud de onda para dar con el material óptimo. Por último, se ha analizado la variación en temperatura que genera la caída de tensión sobre el recubrimiento y se ha relacionado con la respuesta óptica obtenida en función del campo eléctrico insertado.Master bukaerako lan hau egitura optiko baten bidez eremu elektrikoaren detekzioan datza Horretarako, korronte elektrikoa gidatzeko gai diren materialak erabiltzeko posibilitatea aztertu da. Ondoren, UPNA-ko Sentsore taldean argitaratu diren zenbait artikulu oinarri bezala hartuz landuko den egitura optikoa egin da. Behin interferometrian oinarritutako egitura optikoa prest izatean, Sputter teknikaren bidez, aurrerago azalduko dena, material eroaleak zuntz optikoan paratu dira. Gerora, material eroale desberdinen bitartez lortutako egitura optikoen erantzunak eremu elektrikoarekiko ikertu dira. Potentzia eta uhin luzeraren aldaketaren konparaketa egin da materialen artean egokiena zein den ikusiz. Azkenik, eremu elektrikoak material hauetan eraginiko temperatura aldaketak neurtu dira tentsioaren bidez izandako erantzun optikoarekin erlazionatuz.The present work is focused on the study of electric field detection through optical structures. For this end, the possibility of using different materials capable of conducting electricity has been analyzed. Next, based on several articles published in the Sensors group of UPNA, the optical structure on which we have worked has been obtained. Once the optical structure based on the interferometry has been defined, using the sputter deposition technique, which will be explained below, the different conductive materials have been deposited. Afterwards, an analysis of the behavior of the structure against the electric field was carried out when different materials were deposited on it. A comparison of its results in power and wavelength variation has been made to find the optimal material. Finally, the variation in temperature generated by the voltage drop over the coating has been analyzed and has been related to the optical response obtained as a result of the inserted electric field.application/pdfspaFibra ópticaSensores de fibra ópticaModulación electro-ópticaInterferometríaPotencial eléctricoPelículas delgadasTemperaturaZuntz optikoaZuntz optikoko sentsoreakModulazio elektro-optikoaInterferometriaPotentzial elektrioaKapa finakTemperaturaOptical fiberFiber optic sensorsElectro-optical modulationInterferometryElectrical potentialThin filmsTemperatureTrabajo Fin de Máster/Master Amaierako Lana2021-10-26Acceso embargado 5 años / 5 urteko bahiturainfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess