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dc.creatorAginaga Etxamendi, Concepción Isabeles_ES
dc.date.accessioned2021-10-28T19:00:00Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2454/40879
dc.description.abstractEl presente Trabajo Fin de Máster se centra en en el estudio de la detección de campo eléctrico mediante estructuras ópticas. Para ello, se ha analizado la posibilidad de utilizar distintos materiales capaces de conducir electricidad. A continuación, basándose en varios artículos publicados en el grupo de Sensores de la UPNA, se ha obtenido la estructura óptica sobre el cual se ha trabajado. Definida la estructura óptica que se basa en la interferometría SMS, mediante la técnica de deposición de sputter, se han depositado los distintos materiales conductivos. Después, se ha realizado un análisis del comportamiento de la estructura frente al campo eléctrico al depositar sobre ella distintos materiales. Se ha realizado una comparación de sus resultados en variación de potencia y longitud de onda para dar con el material óptimo. Por último, se ha analizado la variación en temperatura que genera la caída de tensión sobre el recubrimiento y se ha relacionado con la respuesta óptica obtenida en función del campo eléctrico insertado.es_ES
dc.description.abstractMaster bukaerako lan hau egitura optiko baten bidez eremu elektrikoaren detekzioan datza Horretarako, korronte elektrikoa gidatzeko gai diren materialak erabiltzeko posibilitatea aztertu da. Ondoren, UPNA-ko Sentsore taldean argitaratu diren zenbait artikulu oinarri bezala hartuz landuko den egitura optikoa egin da. Behin interferometrian oinarritutako egitura optikoa prest izatean, Sputter teknikaren bidez, aurrerago azalduko dena, material eroaleak zuntz optikoan paratu dira. Gerora, material eroale desberdinen bitartez lortutako egitura optikoen erantzunak eremu elektrikoarekiko ikertu dira. Potentzia eta uhin luzeraren aldaketaren konparaketa egin da materialen artean egokiena zein den ikusiz. Azkenik, eremu elektrikoak material hauetan eraginiko temperatura aldaketak neurtu dira tentsioaren bidez izandako erantzun optikoarekin erlazionatuz.eu
dc.description.abstractThe present work is focused on the study of electric field detection through optical structures. For this end, the possibility of using different materials capable of conducting electricity has been analyzed. Next, based on several articles published in the Sensors group of UPNA, the optical structure on which we have worked has been obtained. Once the optical structure based on the interferometry has been defined, using the sputter deposition technique, which will be explained below, the different conductive materials have been deposited. Afterwards, an analysis of the behavior of the structure against the electric field was carried out when different materials were deposited on it. A comparison of its results in power and wavelength variation has been made to find the optimal material. Finally, the variation in temperature generated by the voltage drop over the coating has been analyzed and has been related to the optical response obtained as a result of the inserted electric field.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isospaen
dc.subjectFibra ópticaes_ES
dc.subjectSensores de fibra ópticaes_ES
dc.subjectModulación electro-ópticaes_ES
dc.subjectInterferometríaes_ES
dc.subjectPotencial eléctricoes_ES
dc.subjectPelículas delgadases_ES
dc.subjectTemperaturaes_ES
dc.subjectZuntz Optikoaeu
dc.subjectZuntz optikozko sentsoreakeu
dc.subjectModulazio Elektro-optikoaeu
dc.subjectInterferometriaeu
dc.subjectPotentzial Elektrioaeu
dc.subjectKapa finakeu
dc.subjectTemperaturaeu
dc.subjectOptical Fiberen
dc.subjectFiber Optic Sensorsen
dc.subjectElectro-Optical Modulationen
dc.subjectInterferometryen
dc.subjectElectrical Potentialen
dc.subjectThin Filmsen
dc.subjectTemperatureen
dc.titleEstudio sobre interferómetros de fibra óptica como moduladores electro-ópticoses_ES
dc.typeTrabajo Fin de Máster/Master Amaierako Lanaes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesisen
dc.date.updated2021-10-26T11:50:21Z
dc.contributor.affiliationEscuela Técnica Superior de Ingeniería Industrial, Informática y de Telecomunicaciónes_ES
dc.contributor.affiliationIndustria, Informatika eta Telekomunikazio Ingeniaritzako Goi Mailako Eskola Teknikoaeu
dc.description.degreeMáster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación por la Universidad Pública de Navarraes_ES
dc.description.degreeNafarroako Unibertsitate Publikoko Unibertsitate Masterra Telekomunikazio Ingeniaritzaneu
dc.rights.accessRightsAcceso embargado 5 años / 5 urteko bahituraes
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccessen
dc.embargo.lift2026-10-01
dc.embargo.terms2026-10-01es_ES
dc.contributor.advisorTFESocorro Leránoz, Abián Bentores_ES
dc.contributor.advisorTFEMatías Maestro, Ignacioes_ES


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