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Desarrollo de una plataforma de análisis de datos para aplicaciones de medida de espesores en revestimientos multicapa y caracterización eléctrica de materiales 2D

Este trabajo se ha realizado en la empresa das-Nano Tech en su sede en Noáin. das-Nano Tech S.L. es una empresa navarra dedicada a proporcionar soluciones industriales de medida de espesores en revestimientos multicapa y caracterización eléctrica de materiales 2D empleando tecnología sin contacto basada en ondas de terahercios. En el contexto de los sistemas de medición, y en concreto en los sistemas de medición de espesores en revestimientos multicapa y caracterización eléctrica de materiales 2D, existe una necesidad de recopilar y analizar los datos obtenidos con el fin de extraer información relevante acerca del sistema global y el entorno de la medida. Esta necesidad se presenta por partida doble, tanto por los usuarios finales del sistema de medición cuyo interés reside en el análisis de las medidas realizadas, como por los administradores que se encargan de asegurar el buen funcionamiento del sistema de medición y la validez de los resultados. En este trabajo se propone realizar el diseño, desarrollo e implementación de una plataforma de agregación y análisis de datos que responda a las necesidades descritas. Una de las principales premisas en el desarrollo ha sido el uso de herramientas y técnicas de programación avanzadas, actualizadas y conforme a los estándares del mercado, con el objetivo de maximizar la compatibilidad con otras aplicaciones e implementaciones similares. Se ha optado por un diseño modular y escalable, que ofrezca flexibilidad y facilite la implementación de nuevas funcionalidades.

This work has been carried out in the company das-Nano Tech at its headquarters in Noáin. das-Nano Tech S.L. is a company from Navarre dedicated to providing industrial solutions for thickness measurement in multilayer coatings and electrical characterisation of 2D materials using non-contact technology based on terahertz waves. In the context of measurement systems, and specifically in systems for thickness measurement in multilayer coatings and electrical characterisation of 2D materials, there is a need to collect and analyze the data obtained in order to extract relevant information about the overall system and the measurement environment. This need is twofold, both for the end users of the measurement system whose interest lies in the analysis of the measurements made, and for the administrators who are responsible for ensuring the proper functioning of the measurement system and the validity of the results. This work proposes the design, development and implementation of a data aggregation and analysis platform that responds to the needs described. One of the main premises in the development has been the use of advanced programming tools and techniques, updated and in accordance with market standards, with the aim of maximizing compatibility with other similar applications and implementations. We have opted for a modular and scalable design, which offers flexibility and facilitates the implementation of new functionalities.