Listar Artículos de revista ISC - ISC aldizkari artikuluak por tema "Atomic force microscopy (AFM)"

Mostrando ítems 1-1 de 1

    • Addressing the impact of surface roughness on epsilon-near-zero silicon carbide substrates 

      Navajas Hernández, David Upna; Pérez Escudero, José Manuel Upna Orcid; Martínez Hernández, María Elena Upna Orcid; Goicoechea Fernández, Javier Upna Orcid; Liberal Olleta, Íñigo Upna Orcid (American Chemical Society, 2023)   Artículo / Artikulua  OpenAccess
      Epsilon-near-zero (ENZ) media have been very actively investigated due to their unconventional wave phenomena and strengthened nonlinear response. However, the technological impact of ENZ media will be determined by the ...
      El Repositorio ha recibido la ayuda de la Fundación Española para la Ciencia y la Tecnología para la realización de actividades en el ámbito del fomento de la investigación científica de excelencia, en la Línea 2. Repositorios institucionales (convocatoria 2020-2021).
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